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產(chǎn)品分類
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YP-250ID YAMADA山田光學高亮度電子鏡200V
2024-11-23
經(jīng)銷商
454
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學YP-150ID鹵素強光燈YP-250ID
2024-11-23
經(jīng)銷商
538
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學 鹵素 光源 高亮度 強光燈
2024-11-18
經(jīng)銷商
1626
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學 晶圓 瑕疵 目視 檢查 燈
2024-11-18
經(jīng)銷商
908
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學 芯片 液晶 高 亮度 強光燈
2024-11-18
經(jīng)銷商
925
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學 芯片 液晶 高亮度 鹵素燈
2024-11-18
經(jīng)銷商
1322
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學 缺陷檢查 晶圓 鹵素光源
2024-11-18
經(jīng)銷商
1562
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學 宏觀觀察 晶圓 鹵素光源
2024-11-18
經(jīng)銷商
1034
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